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IC引腳共面性測(cè)試儀的特點(diǎn)

更新時(shí)間:2025-09-16點(diǎn)擊次數(shù):32

在電子行業(yè)中,SMT貼片元器件是經(jīng)常會(huì)運(yùn)用到的零件。而這些元器件與電路連接的部位——引腳,是貼片元器件質(zhì)量檢測(cè)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。因?yàn)檫@種產(chǎn)品引腳的數(shù)量多而且尺寸小,使得檢測(cè)難度較大,且引腳檢測(cè)中的接觸,往往會(huì)導(dǎo)致引腳的損壞。而機(jī)器視覺檢測(cè)的高精確度和非接觸式適合運(yùn)用到該領(lǐng)域中。

IC引腳共面性測(cè)試儀的特點(diǎn)

在SMT貼片元器件的檢測(cè)中,主要的問題有三條:一、元器件引腳的平整度。二、元器件引腳的共面度。三元器件引腳的位置度。

引腳平整度不好,會(huì)導(dǎo)致在貼片的時(shí)候,元器件的引腳與PCB板不能貼和。引腳整體一致性的向上或向下的翹起。而元器件引腳的共面度或位置度不好會(huì)導(dǎo)致個(gè)別引腳不能很好的與PCB貼合。

檢測(cè)引腳共面度問題,很重要的也是最首要的問題就是引腳的端面能否很清晰的成像。

分析引腳缺陷的特征,不難發(fā)現(xiàn)無(wú)論是腳偏,還是缺腳,導(dǎo)致的結(jié)果只有一個(gè):就是存在缺陷的引腳端面與其他正常引腳端面不在同一水平面或根本就不存在該引腳。

共面度的好壞由引腳高度差來(lái)判定,高度差指的就是在同一顆貼片元器件上的一系列引腳中的坐標(biāo)高邊與低邊的坐標(biāo)值之差。通過測(cè)量每顆貼片元器件,每條引腳的兩條邊的位置,我們可以判斷產(chǎn)品的每條引腳是否超過基準(zhǔn)線,有多少條引腳超出基礎(chǔ)線,具體是哪幾條,該元器件是否符合要求。

特點(diǎn):

1、激光非接觸測(cè)量,不損傷工件

2、高數(shù)據(jù)采集評(píng)論,保證高效率測(cè)量

3、激光測(cè)頭精度<0.5um,保證高精度測(cè)量

4、外形設(shè)計(jì)美觀,內(nèi)部緊湊,體積小

5、模組化設(shè)計(jì),組裝維護(hù)更方便

6、絲桿傳動(dòng),低噪音,定位準(zhǔn)去,運(yùn)行更平穩(wěn)

7、高集成化電路設(shè)計(jì),智能判斷故障點(diǎn)

8、CNC軟件,界面友好,操作簡(jiǎn)單,穩(wěn)定性

IC引腳共面性測(cè)試儀的特點(diǎn)



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