微分干涉LCD FPD測(cè)量顯微鏡 粒子分析

   測(cè)量顯微鏡主要用于LCD、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè)，具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測(cè)量導(dǎo)電粒子大小、數(shù)量等功能。是一種兼顧影像與目視兩用的高精度、率測(cè)量?jī)x器。它具有電視成像與目視光學(xué)兩套瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，是集光、機(jī)、電、算、影像于一體的測(cè)量型金相顯微鏡。該儀器用于電子組件、精密模具、精密刀具、塑料、PCB加工等方面，不僅可用作坐標(biāo)測(cè)量，還可以目鏡標(biāo)準(zhǔn)分劃板作顯微放大比較測(cè)量，測(cè)量螺紋的節(jié)距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓，ACF導(dǎo)電粒子形狀和瑕疵觀察，除應(yīng)用于長(zhǎng)度、角度測(cè)量外，還可作為觀察顯微鏡。是機(jī)械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業(yè)，院校、研究所和計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)生產(chǎn)車間檢測(cè)設(shè)備之一。

1. 符合人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)準(zhǔn)則方便操作測(cè)量

2. 工作臺(tái)一鍵式氣動(dòng)單手快速移動(dòng)操作

3. 可實(shí)現(xiàn)Z軸自動(dòng)對(duì)焦

4. 具有偏光和DIC檢測(cè)功能

5. 采用被動(dòng)式減震裝置，提高整機(jī)精度穩(wěn)定性

6. 測(cè)量軟件，高清晰1/2"彩色攝像機(jī)

7. 可通過(guò)激光指示器尋找被測(cè)工件的具體位置，可適應(yīng)復(fù)雜工件的測(cè)量

8. 可實(shí)現(xiàn)高度輔助測(cè)量

9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

10. 同軸光/底光測(cè)量

11. 可搭配白光納米檢測(cè)模塊測(cè)量納米級(jí)厚度

測(cè)量顯微鏡工作原理如下圖所示，被測(cè)工件置于工作臺(tái)上，在底光或表面光照明下，它由物鏡成放大像，經(jīng)過(guò)分光與反射系統(tǒng)后，一路成像于目鏡分劃板上，人眼通過(guò)目鏡可觀察到一個(gè)放大的正像；另一路成像于彩色CCD上，攝像機(jī)攝取工件像后通過(guò)網(wǎng)口傳送至計(jì)算機(jī)及彩色液晶顯示器上，顯示出一個(gè)與工件*同向的放大清晰影像。我們可以通過(guò)目鏡或液晶顯示器對(duì)工件像進(jìn)行瞄準(zhǔn)定位，通過(guò)數(shù)字測(cè)量系統(tǒng)：光柵尺與專業(yè)測(cè)量軟件對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，即光柵尺的信號(hào)與計(jì)算機(jī)主機(jī)通訊，供專業(yè)軟件進(jìn)行測(cè)量和數(shù)據(jù)處理。目視測(cè)量系統(tǒng)還可以利用目鏡分劃板上預(yù)先刻制好的標(biāo)準(zhǔn)圖形對(duì)工件進(jìn)行比較測(cè)量。底光照明光源與顯微鏡自帶表面光源，視工件的性質(zhì)兩種照明可分別使用，也可同時(shí)使用。

何謂ACF(異方性導(dǎo)電膠)：其特點(diǎn)在于Z軸電氣導(dǎo)通方向與XY絕緣平面的電阻特性具有明顯的差異性。當(dāng)Z軸導(dǎo)通電阻值與XY平面絕緣電阻值的差異超過(guò)一定比值后，既可稱為導(dǎo)電異方性。貼合工藝：導(dǎo)電粒子在黏合劑中均勻分布,互不接觸,加之有一層絕緣膜,ACF 膜是不導(dǎo)電的,當(dāng)對(duì)ACF膜加壓、加熱后導(dǎo)電粒子絕緣膜破裂,并互相在有線路的部分(因?yàn)檩^無(wú)線路部分突起) 擠壓在一起,形成導(dǎo)通,被擠壓后的導(dǎo)電粒子體積是原來(lái)的3～4 倍(導(dǎo)電粒子體積不變，差別在于原本是球體狀，經(jīng)過(guò)熱壓后變成類似圓餅狀，讓上下電極有更多的面積接觸到導(dǎo)電粒子),加熱使黏合劑固化,保持導(dǎo)通狀態(tài)。
        注意點(diǎn)：導(dǎo)電粒子的粒徑分布和分布均勻性亦會(huì)對(duì)異方導(dǎo)電特性有所影響。通常，導(dǎo)電粒子必須具有的粒徑均一性和真圓度，以確保電極與導(dǎo)電粒子間的接觸面積一致，維持相同的導(dǎo)通電阻，并同時(shí)避免部分電極未接觸到導(dǎo)電粒子，導(dǎo)致開(kāi)路的情形發(fā)生。常見(jiàn)的粒徑范圍在3~5μm之間，太大的導(dǎo)電粒子會(huì)降低每個(gè)電極接觸的粒子數(shù)，同時(shí)也容易造成相鄰電極導(dǎo)電粒子接觸而短路的情形；太小的導(dǎo)電粒子容易行成粒子聚集的問(wèn)題，造成粒子分布密度不平均。

在這邊要先說(shuō)明何謂微分干涉差系統(tǒng)：用四個(gè)的光學(xué)組件：偏振器（polarizer）、DIC棱鏡、DIC滑行器和檢偏器（analyzer）。偏振器直接裝在聚光系統(tǒng)的前面，使光線發(fā)生線性偏振。在聚光器中則安裝了石英Wollaston棱鏡，即DIC棱鏡，此棱鏡可將一束光分解成偏振方向不同的兩束光（x和y），二者成一小夾角。聚光器將兩束光調(diào)整成與顯微鏡光軸平行的方向。初兩束光相位一致，在穿過(guò)標(biāo)本相鄰的區(qū)域后，由于標(biāo)本的厚度和折射率不同，引起了兩束光發(fā)生了光程差。在物鏡的后焦面處安裝了第二個(gè)Wollaston棱鏡，即DIC滑行器，它把兩束光波合并成一束。這時(shí)兩束光的偏振面（x和y）仍然存在。后光束穿過(guò)第二個(gè)偏振裝置，即檢偏器。在光束形成目鏡DIC影像之前，檢偏器與偏光器的方向成直角。檢偏器將兩束垂直的光波組合成具有相同偏振面的兩束光，從而使二者發(fā)生干涉。x和y波的光程差決定著透光的多少。光程差值為0時(shí)，沒(méi)有光穿過(guò)檢偏器；光程差值等于波長(zhǎng)一半時(shí)，穿過(guò)的光達(dá)到大值。于是在灰色的背景上，標(biāo)本結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)出亮暗差。為了使影像的反差達(dá)到狀態(tài)，可通過(guò)調(diào)節(jié)DIC滑行器的縱行微調(diào)來(lái)改變光程差，光程差可改變影像的亮度。調(diào)節(jié)DIC滑行器可使標(biāo)本的細(xì)微結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)出正或負(fù)的投影形象，通常是一側(cè)亮，而另一側(cè)暗，這便造成了標(biāo)本的人為三維立體感，類似大理石上的浮雕。

軟件功能：

1.   繪圖功能：可以畫(huà)點(diǎn)、畫(huà)線、畫(huà)圓、畫(huà)弧、畫(huà)并行線、畫(huà)垂直線、畫(huà)中分線、畫(huà)矩形、畫(huà)四邊形等復(fù)雜幾何圖形。
2.   多點(diǎn)取線、圓、弧功能：可選擇任意多的點(diǎn)畫(huà)圖增加測(cè)量準(zhǔn)確度，還可得出線的真直度和圓的真圓度等數(shù)據(jù)。
3.   找交點(diǎn)功能：可以自動(dòng)捕捉線和線、線和圓或弧、圓和圓或弧等任意圖形的交點(diǎn)，方便測(cè)量需要。
測(cè)量功能：可測(cè)量線的長(zhǎng)度；圓的直徑、半徑；弧的直徑、半徑、掃描角度；點(diǎn)到線的垂直距離；圓到線的垂直距離；圓到圓的距離；并行線 間距；線排的Pitch間距；角度；兩點(diǎn)的線性距離等尺寸。
宏命令：可把上一次測(cè)量過(guò)程記錄下來(lái)，同樣的工件既可以調(diào)出來(lái)使用。一個(gè)命令即可完成上一個(gè)工件的全部操作，降低的軟件操作難度、提 高了測(cè)量速度。
6.   自動(dòng)檢測(cè)：可以自動(dòng)檢測(cè)工件上的線、圓、弧、并行線、角度等幾何圖形，還可以對(duì)工件進(jìn)行邊緣掃描?？焖俣鴾?zhǔn)確。
7.   十字線繪圖功能：可以用軟件上的十字線結(jié)合腳踏板繪圖、測(cè)量，降低操作難度，提高學(xué)習(xí)速度。
8.   自動(dòng)R角功能：可以根據(jù)工件上的邊線自動(dòng)作出和兩邊相切的R角，增加了測(cè)量速度和測(cè)量精度。
9.   標(biāo)注功能：可標(biāo)注所有測(cè)量尺寸方便拍照。
10. 編輯功能：可以任意移動(dòng)、復(fù)制、旋轉(zhuǎn)、鏡像、刪除、打斷、延伸所畫(huà)圓素，操作方便快捷，配合編輯功能可測(cè)量任意復(fù)雜
      幾何尺寸。
11. 拍照功能：可以隨時(shí)抓取工件照片及標(biāo)注尺寸和所繪的圖形，可打印或發(fā)給他人遠(yuǎn)程使用。
12. 儲(chǔ)存Word數(shù)據(jù)功能：可以隨時(shí)儲(chǔ)存測(cè)量數(shù)據(jù)到Word中，得出測(cè)量結(jié)果的質(zhì)量檢測(cè)報(bào)告，測(cè)量數(shù)據(jù)不用人工抄寫(xiě)，增加測(cè)量速
      度。
13. 儲(chǔ)存Excel數(shù)據(jù)功能：可以隨時(shí)儲(chǔ)存測(cè)量數(shù)據(jù)到中，得出測(cè)量結(jié)果的質(zhì)量檢測(cè)報(bào)告，測(cè)量數(shù)據(jù)不用人工抄寫(xiě)，增加測(cè)量
      速度,同時(shí)也可以做SPC數(shù)據(jù)分析。
14. 儲(chǔ)存DXF檔案功能：可將所畫(huà)工件的工程圖儲(chǔ)存為AutoCAD檔案，可用AutoCAD開(kāi)啟生成工件的工程圖紙。
 

終解釋:北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司